Messung elektrischer Eigenschaften

• U/I-Kennlinienmessung im Bereich 1 µV - 100 V, 1 pA - 100 mA mittels
  4-Spitzen zur Bestimmung von Flächen- und spezifischen Kontaktwiderständen
  auch an mikrostrukturierten Kontakten in linearer und van-der-Pauw-Geometrie
• CV-Messungen im Bereich von fF bis nF