Optisch

Wir bieten die Messung folgender Parameter an LED und kleinen Strahlungsquellen:

  • Lichtstrom (Lumen)
  • Strahlungsleistung (W) im Bereich 193 bis 1600 nm
  • Lichtstärke (Candela)
  • Strahlstärke (W/sr) im Bereich 193 bis 1600 nm
  • Abstrahlwinkel; Abstrahlcharakteristik
  • Lichtstärkeverteilungskörper LVK
  • Farbtemperaturverteilungskörper
  • Strom-Licht-Kennlinien im Bereich 193 bis 1600 nm
  • Lichtausbeute / Effizienz (lm/W)
  • Spektral wichtige Stützstellen (z. B. dominante Wellenlänge)
  • Farbwiedergabeindex (CRI, Ra, ...)
  • Farbtemperatur CRT
  • Farbkoordinaten x/y (CIE1931) oder Luv (CIE1976)
  • Spektrale Verteilung und davon abgeleitete Parameter
  • Spektral aufgelöste Messung der bidirektionale Streufunktion von festen Oberflächen
  • Reflektions-Spektrogramme für Azimut und Elongation – 90° bis 90° für 193 bis 1600 nm
  • Optoelektronische Kurzpulsmessungen an LED mit 0,5 ns Zeitauflösung und 2 ns Anstiegszeit
  • Anregungsspektroskopie an festen und flüssigen Proben
  • Messungen an großen (< 0,5 m) und kleinen (>1 mm) Objekten


Weiterhin bieten wir Messungen an ebenen und rauhen Schichten und Oberflächen:

  • Spektralabhängige Transmissions-, Absorptions- und Reflektionsmessungen von 0,2 µm bis 1,25 mm (Terahertz) an Oberflächen und dünnen Schichten
  • Bestimmung der optischen Konstanten n(λ), k(λ)

Elektrisch

In unserem Messlabor führen wir folgende Messungen durch:

  • Elektrische Kennlinien im Bereich 100 fA bis 10 A und 100 pV bis 400 V
  • Elektrische Charakterisierung der Kapazität von 1 pF bis 100 F mit einer Auflösung < 1 %
  • Elektrische Wechselsignale in Erzeugung und Analyse bis 500 MHz.
  • Messplätze für Langzeituntersuchungen an Hochleistungs-LED für bis zu 2500 Bauelemente
  • Messplätze für Langzeituntersuchungen an Niedrigleistungs-LED für bis zu 800 Bauelemente
  • Kurzpulscharakterisierung bis 2 ns
  • Elektrische Messung thermomechanischer Kenngrößen
  • 4-Spitzen Messungen zur Bestimmung von Flächen- und spezifischen Kontaktwiderstanden in linearer und
  • van-der-Pauw-Geometrie auch an mikrostrukturierten Kontakten (im Bereich 1 pA - 100 mA und 1 μV - 100 V )
  • CV-Messungen im Bereich von fF bis nF